UDC 621.382 L 55 中华人民共和国国家标准 GB/T 14031—92 半导体集成电路模拟锁相环 测试方法的基本原理 General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits 国家标准全文公开系统专用，此文本仅供个人学习、研究之用， 未经授权，禁止复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。 全国标准信息公共服务平台：https：//stdl.samr.gov.cn 1992-12-18发布 1993-08-01实施 国家技术监督局 发布 中华人民共和国国家标准 半导体集成电路模拟锁相环 测试方法的基本原理 GB/T 14031--92 General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits 本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环（以下简称器件或模拟锁相环)电参数测试方法的基本原 理。 模拟锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3439《半导体集成电路TTL电路测 试方法的基本原理》。 模拟锁相环与运算放大器相同的静态和动态参数测试可参照GB3442《半导体集成电路运算（电 压)放大器测试方法的基本原理》。 1总要求 1.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合详细规范的规定。 1.2测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响，测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的 规定。 1.3测试期间，施于被测器件的电参量的精度应符合器件详细规范的规定。 1.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。 1.5，若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源。 1.6测试期间，被测器件应按器件详细规范的规定连接外围网络。锁相环处于闭环状态。 1.7测试期间，被测器件应避免出现自激现象。 1.8若电参数值是由几步测试的结果经计算确定的，这些测试的时间间隔应尽可能短。 2参数测试 2.1跟踪输入电压VI(TRA) 2.1.1目的 在规定中心频率和规定频偏下，测试锁相环保持跟踪的最小输入电压。 2.1.2测试原理 锁相环接成闭环，跟踪输入电压的测试原理图如图1所示。 国家技术监督局19.92-12-18批准 1993-08-01实施 54C GB/T 14031---92 电源 被测器件 数 G FM 懒率 示波器 计 定频元件 外围网络 图 1 2.1.3测试条件 测试期间，下列测试条件应符合被测器件详细规范的规定。 a. 环境温度； b. 电源电压； 外围网络； 压控振荡器外接定频电阻、定频电容。 2.1.4测试程序 2.1.4.1将被测器件接入测试系统。 2.1.4.2接通电源。 2.1.4.3调节调频信号发生器的输出，使交流电压表指示为零，调节压控振荡器外接定频电阻或定频 电容，使其中心频率在规定值f。上。 2.1.4.4调节调频信号发生器输出正弦调频波按式（1)计算： f =f。+△fasin(2元fmt)(Hz) ..(1 ) 式中：f。中心频率； Af。规定频偏; fm—-调制信号频率。 2.1.4.5调节调频信号发生器的输出幅度，使锁相环进入跟踪（锁定)状态。用示波器在解调输出端观 察跟踪情况，调节调频信号发生器的输出幅度、使其由大到小连续缓慢变化，当环路失锁的一瞬间，交流 电压表指示的电压值，即为跟踪输入电压。 2.2中心频率最大值fom 2.2.1目的 在无调频信号输入，压控振荡器输出波形的静态参数和动态参数均在规范值时，测试压控振荡器中 心频率的最大值。 2.2.2测试原理 ，锁相环接成闭环，无调频信号输入，使压控振荡器的控制电压恒定，压控振荡器处于中心频率工作 状态，中心频率最大值的测试原理如图2所示。 2