(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210733018.7 (22)申请日 2022.06.27 (71)申请人 荣旗工业科技 （苏州） 股份有限公司 地址 215000 江苏省苏州市工业园区唯亭 双马街2号星华产业园1 1号 (72)发明人 朱文兵　罗时帅　钱曙光　汪炉生　 柳洪哲　柳云鸿　钱根　陶磊　 (51)Int.Cl. G01N 21/88(2006.01) G06T 7/00(2017.01) G06T 7/13(2017.01) G06T 7/73(2017.01) (54)发明名称 一种表面缺陷检测装置及表面缺陷检测方 法 (57)摘要 本申请涉及自动化检测设备技术领域， 尤其 是涉及一种表面缺陷检测装置及表面缺陷检测 方法， 旨在解决现有技术基于图像 分析的表面缺 陷检测技术在针对圆弧形表面或光滑表面等特 殊检测场景时， 难以精确地检出表面缺陷， 导致 产品质量的检验效果差的问题， 其技术方案是一 种表面缺陷检测装置， 包括图像获取装置、 控制 终端以及检测平台， 检测平台用于放置待检测工 件， 图像获取装置受控于所述控制终端， 图像获 取装置包括镜头以及光栅， 光栅 设于所述镜头以 及检测平台之间， 用于在图像获取装置获取有缺 陷的待检测工件的检测图像时产生摩尔纹特征， 本申请具有扩 大表面缺陷检测的适用场景范围， 提高表面 缺陷检测的精准度的效果。 权利要求书1页 说明书7页 附图3页 CN 114813760 A 2022.07.29 CN 114813760 A 1.一种表面缺陷检测装置， 其特征在于： 包括图像获取装置(1)、 控制终端(2)以及检测 平台(3)， 所述检测平台(3)用于放置待检测工件， 所述图像获取装置(1)受控于所述控制终 端(2)， 所述图像获取装置(1)包括镜头(11)以及光栅(12)， 所述光栅(12)设于所述镜头 (11)以及检测平台(3)之间， 用于在所述图像获取装置(1)获取有缺陷的待检测工件的检测 图像时产生摩尔纹特 征。 2.根据权利要求1所述的一种表面缺陷检测装置， 其特征在于： 所述光栅(12)设置为条 纹光栅(12)， 所述光栅(12)的条纹间隔基于所述待检测 工件的缺陷标准设定， 所述缺陷标 准至少包括 面积大小以及长款尺寸。 3.根据权利要求1所述的一种表面缺陷检测装置， 其特征在于： 所述表面缺陷检测装置 还包括环境 光源(4)， 所述环境 光源(4)可调且受控于所述控制终端(2)。 4.根据权利要求1所述的一种表面缺陷检测装置， 其特征在于： 所述检测平台(3)包括 支架(31)， 所述支 架(31)设置为与所述待检测工件匹配。 5.一种表面缺陷检测方法， 其特征在于： 所述表面缺陷检测方法是基于如权利要求1 ‑4 中任一所述的一种表面 缺陷检测装置实现的， 包括以下步骤： 获取所述待检测工件的检测图像； 基于预设的边缘识别算法， 提取所述检测图像的摩尔纹特征轮廓信息， 所述摩尔纹特 征轮廓信息 至少包括特 征点位置以及特 征灰度值； 将所述特 征灰度值与预设的缺陷 阈值对照； 若所述特 征灰度值高于所述 缺陷阈值， 则判断所述待检测工件 存在缺陷； 若所述待检测工件 存在缺陷， 基于所述摩尔纹特 征轮廓信息计算 缺陷物理参数。 6.根据权利要求5所述的一种表面缺陷检测方法， 其特征在于： 所述获取所述待检测工 件的检测图像之前还 包括： 基于预设的环境 参数调节检测设备的成像环境； 获取所述待检测工件的标准品在每一种所述成像环境下的样本图像。 7.根据权利要求6所述的一种表面缺陷检测方法， 其特征在于： 所述获取所述待检测工 件的标准品在每一种所述成像环境下的样本图像之后还 包括： 基于在不同成像环境下的所述样本图像创建样本集； 以所述样本集 为训练样本训练以获取 标注模型。 8.根据权利要求7所述的一种表面缺陷检测方法， 其特征在于： 所述以所述样本集为训 练样本训练以获取 标注模型之后还 包括： 获取所述待检测工件的检测图像； 运用所述标注模型对所述检测图像进行缺陷标注， 并输出缺陷物理参数。 9.一种智能终端， 其特征在于， 所述智能终端包括处理器和存储器， 所述存储器中存储 有至少一条指 令、 至少一段程序、 代码集 或指令集， 所述至少一条指 令、 所述至少一段程序、 所述代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现如权利要求5至8 中任一所述的一种 表面缺陷检测方法。 10.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 所述存储介质中存储有至少一条指令、 至 少一段程序、 代码集或指令集， 所述至少一条指令、 所述至少一段程序、 所述代码集或指令 集由处理器加载并执 行以实现如权利要求5 至8任一所述的一种表面 缺陷检测方法。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 114813760 A 2一种表面缺陷检测装 置及表面缺陷检测方 法 技术领域 [0001]本申请涉及自动化检测设备技术领域， 尤其是涉及一种表面缺陷检测装置及表面 缺陷检测方法。 背景技术 [0002]表面缺陷检测通常是指对物品表面缺陷的检测， 是工艺生产中的重要一环。 对图 像的处理和分析是表 面缺陷检测技术中的重要部分。 图像可以看成是一个定义在二 维平面 上的信号， 该信号的幅值对应像素的灰度。 如果仅考虑一帧图像的某一行像素， 那么可以看 成是与时域信号相似的一维空间的信号， 但是图像信号是定义在空间域上 的。 因此图像的 频率被称为空间频率， 即指单位长度内亮度做周期性变化的次数， 它反 映了图像的像素灰 度在空间中的变化情况。 [0003]摩尔纹是一种光学现象， 是指当感光元件CCD/CMOS像素的空间频率与影像中条纹 的空间频率接近时， 可能产生的一种新的波浪形的干扰图纹， 这种干扰图纹即是摩尔纹。 两 个频率接近的等幅正弦波叠加， 合 成信号的幅度将按照两个频率之差变化， 就是差拍现象， 摩尔纹也是差拍现象的一种表现形式。 [0004]目前， 表面缺陷检测通常是采用机器视觉检测技术， 即通过CCD等设备获取工件图 像， 基于工件图像对工件表面的斑点、 凹坑、 划痕、 色差以及缺损等进行检测。 [0005]在实现本申请的过程中， 发明人发现上述 技术至少存在以下问题： 基于图像分析的表面缺陷检测技术在针对圆弧形表面或光滑表面等特殊检测场 景时， 难以精确地检出表面 缺陷， 导致产品质量的检验效果差 。 发明内容 [0006]为了扩大表面缺陷检测的适用 场景范围， 提高表面缺陷检测的精准度， 本申请提 供一种表面 缺陷检测装置及表面 缺陷检测方法。 [0007]第一方面， 本申请提供的一种表面 缺陷检测装置， 采用如下的技 术方案： 一种表面缺陷检测装置， 包括图像获取装置、 控制终端以及检测平台， 所述检测平 台用于放置待检测工件， 所述图像获取装置受控于所述控制终端， 所述图像获取装置包括 镜头以及光栅， 所述光栅设于所述镜头以及检测平台之间， 用于在所述图像获取装置获取 有缺陷的待检测工件的检测图像时产生摩尔纹特 征。 [0008]通过采用上述技术方案， 将待检测工件放置在检测平台上后， 由图像获取装置获 取工件的检测图像， 此时设置在镜头与待检测工件之 间的光栅与图像获取装置的感光元件 发生差拍现象导致检测图像上出现摩尔纹特征， 从而有助于使得控制终端 借助摩尔纹特征 进行检测图像的表面缺陷检测分析， 摩尔纹特征 的产生是光学现象， 因此针对于不同的工 件表面均可以获取摩尔纹特征， 从而扩大了表面缺陷检测装置在不同的表面下的应用范 围， 有助于提高表面 缺陷检测的精准度。 [0009]在一个具体的可实施方式中， 所述光栅设置为条纹光栅， 所述光栅的条纹间隔基说　明　书 1/7 页 3 CN 114813760 A 3