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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210784914.6 (22)申请日 2022.07.05 (71)申请人 深圳市科 睿达自动化设备有限公司 地址 518000 广东省深圳市光明区马田街 道新庄社区将富路10号D栋801 (72)发明人 不公告发明人 (74)专利代理 机构 深圳市中科云策知识产权代 理有限公司 4 4862 专利代理师 陈科恒 (51)Int.Cl. G06T 7/73(2017.01) G06F 8/61(2018.01) B65B 15/04(2006.01) B65B 23/22(2006.01) (54)发明名称 一种芯片测试烧录后进行编带或摆盘的设 备及其工作方法 (57)摘要 本发明提供一种芯片测试烧录后进行编带 或摆盘的设备及其工作方法, 设备包括下机架、 固定在下机架上的上外罩、 第一CCD定位和检测 系统、 第二CCD定位和检测系统、 龙门式取料机械 手、 不良品收纳装置、 走带机构、 封合机构、 料盘 皮带线移动机构、 烧写机构、 料管供料机构、 平行 设置的多个卷盘供料机构和料盘供料机构。 本发 明采用第一CCD定位和检测系统检测正面缺陷并 进行初定位, 采用第二CCD定位和检测系统检测 IC芯片底部外观并进行二次定位, 然后进行IC芯 片烧写, 烧写后进行编带或摆盘; 本发明满足大 批量高品质及多种封装IC芯片生产的现代化作 业需求; 本发明设备操作方便, 其结构成熟稳定, 零部件结 实耐用, 易于操作, 定位精准, 外观简洁 大方。 权利要求书2页 说明书5页 附图8页 CN 115147487 A 2022.10.04 CN 115147487 A 1.一种芯片测试烧录后进行编带或摆盘的设备, 其包括下机架以及固定在下机架上的 上外罩, 其特征在于, 还包括第一CCD定位和检测系统、 第二CCD定位和检测系统、 龙 门式取 料机械手、 不良品收纳装置、 走带机构、 封合机构、 料盘皮带线移动机构、 烧写机构、 料管供 料机构、 平行设置的多个卷盘供料机构和料盘供料机构; 其中所述第一CCD 定位和检测系统 固定在所述龙门式取料机械手上, 所述料盘皮带线移动机构 固定在料盘供料机构侧 边; 所 述料管供料机构、 平行设置的多个卷盘供料机构、 料盘供料机构、 烧写机构、 龙门式取料机 械手、 第二CCD定位和 检测系统、 不良品收纳装置和走带机构固定在所述下机架上; 所述烧 写机构、 龙门式取料机械手、 第二CCD定位和 检测系统、 不良品收纳装置和走带机构位于所 述上外罩罩设的空间内; 所述料盘供料机构、 多个卷盘供料机构和料管供料机构依序平行 设置; 所述第二C CD定位和检测系统位于所述料 管供料机构和烧写机构之间。 2.根据权利要求1所述的芯片测试烧录后进行编带或摆盘的设备, 其特征在于, 所述烧 写机构均位于料盘供料机构的一端、 多个卷盘供料机构的一端和料管供料机构的一端, 所 述烧写机构由龙门式取 料机械手30包围。 3.根据权利要求1所述的芯片测试烧录后进行编带或摆盘的设备, 其特征在于, 所述不 良品收纳装置位于多个卷盘供料机构和烧写机构之间, 且不良品收纳装置与第二CCD定位 和检测系统平行设置 。 4.根据权利要求1所述的芯片测试烧录后进行编带或摆盘的设备, 其特征在于, 所述料 管供料机构包括具有多个出料流道槽且 供IC芯片的料管插入的出料流道、 支撑出料流道的 直振以及固定所述 直振的料 管座; 所述料 管座固定在所述下机架上。 5.根据权利要求1所述的芯片测试烧录后进行编带或摆盘的设备, 其特征在于, 每个卷 盘供料机构包括收带盘、 放带盘、 均与所述收带盘和所述放带盘连接的卷盘支架以及设置 在所述卷盘支 架上的出 料区域。 6.根据权利要求1所述的芯片测试烧录后进行编带或摆盘的设备, 其特征在于, 所述料 盘供料机构位于包括支撑台、 堆叠设置的多个下盘位以及堆叠设置的多个上盘位, 多个下 盘位和多个上盘位并列位于支撑台上; 所述支撑台包括与所述下机架位于同一个水平面上 的第一支撑体以及与所述第一支撑体连接且位于所述下机架上的第二支撑体, 多个下盘位 远离所述第二支撑体设置, 多个上盘位靠 近所述第二支撑体9612设置 。 7.根据权利要求1所述的芯片测试烧录后进行编带或摆盘的设备, 其特征在于, 所述龙 门式取料机械手包括固定在所述下机架上的两个第一滑块固定支架和两个第二滑块固定 支架、 固定在两个第一滑块固定支架上 的第一滑块和第一无尘拖链、 固定在第一滑块上 的 第一X轴直线电机固定支架、 固定在每个第二滑块固定支架上的Y轴直线电机固定支架、 固 定在Y轴直线电机固定支架上的Y轴直线电机、 固定在Y轴直线电机上的第二X轴直线电机固 定支架、 固定在第一X轴直线电机固定支架和第二X轴直线电机固定支架之间的X轴直线电 机、 固定在X轴直线电机上第二无尘拖链、 固定在X轴直线电机上的取料吸嘴模块、 固定在X 轴直线电机下方的X轴直线电机传感器、 以及固定在Y轴直线电机下方的Y轴直线电机传感 器, 其中所述第一C CD定位和检测系统位于所述取 料吸嘴模块上。 8.根据权利要求1所述的芯片测试烧录后进行编带或摆盘的设备, 其特征在于, 所述不 良品收纳装置包括固定在所述下机架上的支撑底座、 固定在所述支撑底座上的多个支撑 柱、 固定在多个支撑柱上 的不良品收纳导向板、 固定在所述不良品收纳导向板上 的不良品权 利 要 求 书 1/2 页 2 CN 115147487 A 2IC芯片收纳盒以及固定在不良品IC芯片收纳盒上的手柄。 9.根据权利要求1所述的芯片测试烧录后进行编带或摆盘的设备, 其特征在于, 还包括 位于所述走 带机构侧边的打点装置 。 10.根据权利要求1 ‑8任一所述的芯片测试烧录后进行编带或摆盘的设备的工作 方法, 其特征在于, 包括如下步骤: S1: 装有IC芯片的料管插入料管供料机构的出料流道, 料管供料机构的直振振动并将 料管内的IC 芯片送到出料流道槽内; 同时第一CCD定位和检测系统识别IC 芯片正反、 位置坐 标和正面缺陷; S2: 经第一C CD定位和检测系统识别的合格IC芯片由龙门式取 料机械手抓取IC芯片; S3: 第二C CD定位和检测系统识别IC芯片反面 缺陷和方向; S4: 经第二CCD定位和检测系统识别的合格IC芯片装填入烧写机构, 由烧写机构进行烧 录; 当IC芯片为管装IC芯片时, 则由烧写机构92进行编带或摆盘; 当IC芯片为料盘IC芯片 时, 则由烧写机构92进行编带或摆盘; 当IC芯片为卷装IC时, 则由烧写机构进行编带或摆 盘; 对于步骤S2和 S3中, 分别经第一CCD定位和检测系统和第二CCD定位和检测系统不合格 IC芯片, 均自动进入不良品收纳装置内。权 利 要 求 书 2/2 页 3 CN 115147487 A 3
专利 一种芯片测试烧录后进行编带或摆盘的设备及其工作方法
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