(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210547987.3 (22)申请日 2022.05.18 (71)申请人 深圳市安 健科技股份有限公司 地址 518000 广东省深圳市南 山区朗山路 华瀚创新园办公楼 A座408室 (72)发明人 叶超　童泽京　郑晗　 (74)专利代理 机构 深圳市博锐专利事务所 44275 专利代理师 欧阳燕明 (51)Int.Cl. G06T 5/00(2006.01) G06T 7/00(2017.01) G06T 7/11(2017.01) G06T 7/136(2017.01) G06T 7/187(2017.01)G06T 7/73(2017.01) (54)发明名称 一种用于多层平板探测器的几何校正方法 及装置 (57)摘要 本发明公开一种用于多层平板探测器的几 何校正方法及装置， 通过多层平板探测器对几何 校正模体进行照射后， 获取到多层 平板探测器中 各层的校正图像， 而由于几何校正模体上设置有 特征标记， 使得照射后得到的每一校正图像中都 有与特征标记对应的坐标， 从而在后续校正的过 程中， 能够以第一预设层对应的特征标记的坐标 为参考基准结合其余各层对应的特征标记的坐 标计算得到各层对应的几何校正矩阵， 从而 得到 各层与第一预设层之间的几何位置偏差， 并最终 通过几何校正矩阵对各层的位置进行校正， 进而 消除第一预设层与各层之间的几何位置偏差， 消 除了层级之间存在相对平移、 内旋、 外旋偏差的 问题， 实现对二维投影图像 之间的几何位置差异 的矫正。 权利要求书2页 说明书7页 附图4页 CN 115018720 A 2022.09.06 CN 115018720 A 1.一种用于多层平板 探测器的几何校正方法， 其特 征在于， 包括 步骤： 通过多层平板探测器采集几何校正模体对应的校正图像， 所述几何校正模体上设置有 特征标记； 根据所述多层平板探测器中各层的所述校正图像获取每一校正图像中的特征标记的 坐标； 以第一预设层对应的所述坐标为参考基准， 对其余各层对应的所述坐标进行矩阵变化 计算， 得到各层对应的几何校正矩阵； 根据所述几何校正矩阵对各层平板的位置以及实际拍摄图像进行 校正。 2.根据权利要求1所述的一种用于多层平板探测器的几何校正方法， 其特征在于， 所述 几何校正模体上设置有至少两组所述特 征标记； 根据所述多层平板探测器中各层的所述校正图像获取每一校正图像中的特征标记的 坐标之后还 包括： 根据所述校正图像中的多组所述 坐标得到特征坐标组。 3.根据权利要求1所述的一种用于多层平板探测器的几何校正方法， 其特征在于， 所述 根据所述多层平板探测器中各层的所述校正图像获取每一校正图像中的特征标记的坐标 包括： 获取所述校正图像的亮度均值； 根据所述亮度均值对所述校正图像进行区域分割， 得到多组连通 区域并标记所述连通 区域； 根据预设的筛 选阈值对所述连通区域进行筛 选， 得到有效连通区域； 根据所述有效连通区域计算得到所述 坐标。 4.根据权利要求3所述的一种用于多层平板探测器的几何校正方法， 其特征在于， 所述 根据所述亮度均值对所述校正图像进行区域分割包括： 获取分割比例系数， 根据所述亮度均值以及所述分割比例系数 得到区域分割阈值； 根据所述区域分割阈值对所述校正图像进行区域分割。 5.根据权利要求3所述的一种用于多层平板探测器的几何校正方法， 其特征在于， 所述 根据所述有效连通区域计算得到所述 坐标包括： 计算所述有效连通区域的质心点； 根据所述质心点得到所述 坐标。 6.根据权利要求1所述的一种用于多层平板探测器的几何校正方法， 其特征在于， 所述 以第一预设层对应的所述坐标为参考基准， 对其余各层对应的所述坐标进行矩阵变化计 算， 得到各层对应的几何校正矩阵包括： 建立变换矩阵M： Ii(Mi*pij)＝Ii′(pi′j)； 得到几何校正变换 方程组： Mi*Pij＝Pi′j j＝1,2...n； 根据所述几何校正变换 方程组计算得到所述几何校正矩阵Mi； 其中， pij为第i层平板的第j个坐标[x,y,j]； Ii为第i层图像， Ii′为所述第一预设层图 像； Mi为第i层相对所述第一预设层的矫 正矩阵； n 为匹配点数。 7.根据权利要求6所述的一种用于多层平板探测器的几何校正方法， 其特征在于， 所述 根据所述几何校正矩阵对各层平板的位置实际拍摄图像进行 校正包括：权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115018720 A 2根据所述几何校正矩阵Mi对其对应层的所述拍摄图像坐标进行转换； 对完成转换的所述拍摄图像进行双线性插值， 得到所述拍摄图像对应的变换图像。 8.一种几何校正模体， 其特征在于， 所述几何校正模体包括具有一定X射线衰减系数且 能够在平板探测器上显影的材 料； 所述几何校正模体包括至少两组特 征标记； 至少一组所述特 征标记设置在所述几何校正模体的中心。 9.根据权利要求8所述的一种几何校正模体， 其特征在于， 所述特征标记包括任意可求 出质心和顶点的图形。 10.一种用于多层平板探测器的几何校正装置， 包括存储器、 处理器及存储在存储器上 并可在处理器上运行 的计算机程序， 其特征在于， 所述处理器执行所述计算机程序时实现 如权利要求1 ‑7任意一项所述的一种用于多层平板 探测器的几何校正方法中的各个步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115018720 A 3