(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210681776.9 (22)申请日 2022.06.16 (71)申请人 龙码视别 （北京） 科技有限公司 地址 100000 北京市海淀区永丰路9号院3 号楼A座2层中段59 2号 (72)发明人 窦中杰　敖家志　李慧轩　张蕾　 (51)Int.Cl. G06T 7/60(2017.01) G06T 7/62(2017.01) G06T 7/73(2017.01) G06T 7/50(2017.01) (54)发明名称 一种尺寸测量方法和装置 (57)摘要 本申请提供一种尺寸测量装置和尺寸测量 方法， 尺寸测量装置包括： 深度检测模组， 具有像 素阵列， 用以获取视场范围内的深度数据； 瞄准 模组， 用以通过瞄准图案瞄准所述深度检测模组 视场范围内的目标物品， 其中， 所述瞄准图案对 应于所述像素阵列中的像素位置被预先标定； 存 储器， 预先存储 所述瞄准图案对应的所述像素位 置； 处理器， 用以将所述深度检测模组获取的深 度数据转换为深度点云， 以及根据所述像素位置 对应的深度点云计算所述目标物品的尺寸。 使 得 处理器根据深度检测模组获取的深度点云计算 目标物品的尺寸， 不会受旁边物品的干 扰。 权利要求书1页 说明书5页 附图3页 CN 114937076 A 2022.08.23 CN 114937076 A 1.一种尺寸测量装置， 其特 征在于， 包括： 深度检测模组， 具有像素阵列， 用以获取视场范围内的深度数据； 瞄准模组， 用以通过瞄准图案瞄准所述深度检测模组视场范围内的目标物品， 其中， 所 述瞄准图案对应于所述像素阵列中的像素位置被预 先标定； 存储器， 预先存储所述瞄准图案对应的所述像素位置； 处理器， 用以将所述深度检测模组获取的深度数据转换为深度点云， 以及根据所述像 素位置对应的深度点云计算所述目标物品的尺寸。 2.如权利要求1所述的尺寸测量装置， 其特征在于： 所述瞄准模组包括显示屏， 所述显 示屏的固定位置显示有瞄准图案， 所述显示屏用以显示所述 目标物品的图像， 当所述瞄准 图案与所述显示屏上的目标物品图像重叠时， 所述目标物品的图像至少部 分成像于所述瞄 准图案对应的所述像素位置 。 3.如权利要求1所述的尺寸测量装置， 其特征在于： 包括尺寸测量应用程序， 用以在应 用程序界面 生成所述瞄准图案 。 4.如权利要求1所述的尺寸测量装置， 其特征在于： 包括显示屏， 所述处理器用以根据 算法计算所述目标物品的顶点位置， 且基于所述目标物品的顶点位置于所述显示屏上实时 生成所述目标物品的长方体包络 。 5.如权利要求1所述的尺寸测量装置， 其特征在于： 当所述深度检测模组 的视场范围内 存在多个物品， 所述处理器将所述深度点云切割并拟合为多个点云平面， 与瞄准图案重叠 的点云平面对应的物品为目标物品。 6.一种尺寸测量方法， 其特 征在于， 包括： 在尺寸测量装置上包括： 深度检测模组， 通过具有像素阵列获取视场范围内的深度数 据； 瞄准模组产生瞄准图案瞄准所述深度检测模组视场范围内的目标物品， 且所述瞄准图 案对应于所述像素阵列中的像素位置被预先标定； 存储器预先存储所述瞄准图案对应的所 述像素位置； 处理器， 将所述深度检测模组获取的深度数据转换为深度点云， 以及根据所述 像素位置对应的深度点云计算所述目标物品的尺寸。 7.如权利要求6所述的尺寸测量方法， 其特征在于： 所述瞄准模组包括显示屏， 所述显 示屏的固定位置显示有瞄准图案， 所述显示屏用以显示所述 目标物品的图像， 通过所述瞄 准图案瞄准 目标物品包括： 调整尺寸测 量装置的姿态， 使所述瞄准图案与显示屏上 的目标 物品的图像重 叠。 8.如权利要求6所述的尺寸测量方法， 其特征在于： 还包括： 通过尺寸测量应用程序生 成所述瞄准图案 。 9.如权利要求6所述的尺寸测量方法， 其特征在于： 还包括显示屏， 所述处理器实时计 算所述目标物品的顶 点位置， 且基于所述目标物品的顶点位置于所述显示屏上实时生成所 述目标物品的长方体包络 。 10.如权利要求6所述的尺寸测量方法， 其特征在于： 当所述深度检测模组的视场范围 内存在多个物品， 所述处理器将所述深度点云切割并拟合为多个点云平面， 与瞄准图案重 叠的点云平面对应的物品为目标物品。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 114937076 A 2一种尺寸测量方 法和装置 技术领域 [0001]本申请涉及尺寸测量领域， 尤指一种尺寸测量方法和装置 。 背景技术 [0002]货物尺寸的精确在邮件收费和存储空间的分配方面都有积极的意义， 传统上测量 货物的尺寸可通过手工测量并手动输入电脑， 随着技术的发展， 渐渐发展出了多种自动测 距技术， 比如结构光测距和双目测距等， 根据这些自动测距技术发展出了多种体积测量技 术， 目前这些体积测量技术测量单体货物的体积已经比较成熟， 测量精度较高， 比如测量放 置在较空旷地 面的单个小货物的体积， 就可以做到 很精确。 [0003]然而， 当货物很密集时， 旁边的货物会对待测量的货物产生干扰， 需要用户将待测 量的货物搬运到空旷位置进行测量， 劳心劳力， 操作不方便 。 [0004]本申请针对以上问题， 提供一种新的尺寸测量方法和装置， 采用新的方法和技术 手段以解决这些问题。 发明内容 [0005]本申请创作的目的在于提供一种可以瞄准待目标物品以排除干扰的尺寸测量方 法和装置 。 [0006]为实现上述目的， 本申请采用以下技 术手段： 本申请提供一种尺寸测量装置， 其特征在于， 包括： 深度检测模组， 具有像素阵列， 用以获取视场范围内的深度数据； 瞄准模组， 用以通过瞄准图案瞄准所述深度检测模组视 场范围内的目标物品， 其中， 所述瞄准图案对应于所述像素阵列中的像素位置被预先标定； 存储器， 预先存储所述瞄准图案对应的所述像素位置； 处理器， 用以将所述深度检测模组获 取的深度数据转换为深度点云， 以及根据所述像素位置对应的深度点云计算所述目标物品 的尺寸。 [0007]可选地， 所述瞄准模组包括显示屏， 所述显示屏的固定位置显示有瞄准图案， 所述 显示屏用以显示所述目标物品的图像， 当所述瞄准图案与所述显示屏上的目标物品图像重 叠时， 所述目标物品的图像至少部分成像于所述瞄准图案对应的所述像素位置 。 [0008]可选地， 包括尺寸测量应用程序， 用以在应用程序界面 生成所述瞄准图案 。 [0009]可选地， 包括显示屏， 所述处理器用以根据算法计算所述目标物品的顶点位置， 且 基于所述目标物品的顶点 位置于所述显示屏上实时生成所述目标物品的长方体包络 。 [0010]可选地， 当所述深度检测模组的视场范围内存在多个物品， 所述处理器将所述深 度点云切割并拟合 为多个点云平面， 与瞄准图案 重叠的点云平面对应的物品为目标物品。 [0011]本申请提供一种尺寸测量方法， 其特征在于， 包括： 在尺寸测量装置上包括： 深度 检测模组， 通过具有像素阵列获取视场范围内的深度数据； 瞄准模组产生瞄准图案瞄准所 述深度检测模组视场范围内的目标物品， 且所述瞄准图案对应于所述像素阵列中的像素位 置被预先标定； 存储器预先存储所述瞄准图案对应的所述像素位置； 处理器， 将所述深度检说　明　书 1/5 页 3 CN 114937076 A 3