(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210691712.7 (22)申请日 2022.06.17 (71)申请人 广州德擎 光学科技有限公司 地址 510290 广东省广州市海珠区沥滘振 兴大街10号自编15号楼C201单 元 (72)发明人 白天翔　王琳　 (74)专利代理 机构 广州蓝晟专利代理事务所 (普通合伙) 44452 专利代理师 欧阳凯 (51)Int.Cl. B23K 26/00(2014.01) B23K 26/70(2014.01) (54)发明名称 激光加工过程控制方法、 装置和系统 (57)摘要 本申请实施例公开了一种激光加工过程控 制方法、 装置和系统， 通过激光加工传感器获取 反应激光加工质量的电信号。 根据预设条件， 使 用第一采样频率对反应激光加工质量的电信号 进行数据处理； 根据预设条件的变化情况， 使用 第二采样频率对反应激光加工质量的电信号进 行数据处理； 在显示界面上显示第一采样频率和 第二采样频率分别处理的数据处理结果。 本申请 实施例在激光加工中对加工点辐射光的电信号 数据进行处理时， 至少采用两种采样频率对该电 信号数据进行处理， 以满足复杂激光加工过程下 高效的数据监测处理， 有效监测激光加工过程中 的加工质量， 提高了质量检测的灵活性和效率。 权利要求书2页 说明书14页 附图4页 CN 114905141 A 2022.08.16 CN 114905141 A 1.一种激光加工过程控制方法， 其特 征在于， 包括以下步骤： 通过激光加工传感器获取反应激光加工质量的电信号； 该电信号为激光加工点光辐射 模拟信号或该模拟信号 转化得到的数字电信号； 根据预设条件， 使用第一采样频率对反应激光加工质量的 电信号进行数据处理， 并将 第一数据处 理结果在显示界面上显示； 根据预设条件的变化情况， 使用第 二采样频率对反应激光加工质量的电信号进行数据 处理， 并将第二数据处 理结果在显示界面上显示； 在显示界面上显示第一采样频率和第二采样频率分别处 理的数据处 理结果。 2.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述预设条件为： 判断激光加工头加工速 率是否为匀速； 如果非匀速， 采用第一采样频率对反应激光加工质量的电信号进行数据 处 理。 3.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述预设条件为： 根据激光加工头的加工 速度v确定采样频率f； 建立采样频率f和加工速度v的一次函数关系， 其中， f＝M*v+N， (M、 N 为常数)。 4.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述预设条件为： 预设激光加工轨迹中的 等间隔距离的平均激光加工速度， 等间隔距离对应的信号采样频率随平均激光加工速度的 变化而变化； 根据等间隔距离、 和该平均激光加工速度确定该间隔距离的采样频率f； 其中， f＝K*V/d， 其中K为常数， d为 等间隔距离， V为 等间隔距离d内的平均激光加工 速度。 5.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 反应激光加工质量的电信号指加工激光经 激光加工面发射回光辐射信号检测模块的激光反射电信号。 6.一种激光加工过程控制装置， 其特征在于， 包括： 光辐射信号检测模块、 控制模块和 界面显示模块； 光辐射信号检测模块， 用于获取反应激光加工质量的 电信号； 该电信号为激光加工点 光辐射模拟信号或该模拟信号 转化得到的数字电信号； 控制模块， 用于确定预设条件， 根据预设条件使用第一采样频率对反应激光加工质量 的电信号进行数据 处理， 并将第一数据 处理结果发送给界面显示模块； 根据预设条件的变 化情况， 使用第二采样频率对反应激光加工质量的电信号进行数据 处理， 并将第二数据 处 理结果发送给界面显示模块； 界面显示模块， 用于在显示界面上对比显示第 一采样频率和第 二采样频率分别处理 的 数据处理结果。 7.根据权利要求6所述的装置， 其特征在于， 所述控制模块确定的预设条件为： 判断激 光加工头加工速率是否为匀速； 如果非匀速， 采用第一采样频率对反应激光加工质量的电 信号进行 数据处理。 8.根据权利要求6所述的装置， 其特征在于， 所述控制模块确定的预设条件为根据激光 加工头的加工速度v确 定采样频率f； 建立采样频率f和加工速度v的一次函数关系， 其中， f ＝M*v+N， (M、 N 为常数)。 9.根据权利要求6所述的装置， 其特 征在于， 所述控制模块确定的预设条件为： 预设激光加工轨迹 中的等间隔距离的平均激光加工 速度， 等间隔距离对应的信号采样频率 随平均激光加工速度的变化而变化； 根据等间隔距权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114905141 A 2离、 和该平均激光加工速度确定该间隔距离的采样频率f； 其中， f＝K*V/d， 其中K为常数， d 为等间隔距离， V为 等间隔距离d内的平均激光加工 速度； 所述界面显示模块在显示界面上建立从开始到结束这段激光加工过程 时间内， 基于激 光加工轨迹对应电信号强度值的界面显示， 通过界面显示建立激光加工轨迹和等间隔采样 并处理的电信号幅度值的对应关系。 10.根据权利要求6所述的装置， 其特征在于， 光辐射信号检测模块获取的反应激光加 工质量的电信号指： 加工激光经激光加工面发射回光辐射信号检测模块的激光反射电信 号。 11.一种激光加工过程控制系统， 其特征在于， 包括： 激光加工头、 光辐射信号检测模 块、 控制模块和界面显示模块； 激光加工 头， 用于发出激光束对材 料加工区域的工件进行加工； 光辐射信号检测模块， 用于在激光加工头加工时， 获取反应激光加工质量的电信号； 该 电信号为激光加工点 光辐射模拟信号或该模拟信号 转化得到的数字电信号； 控制模块， 用于确定预设条件， 根据预设条件使用第一采样频率对反应激光加工质量 的电信号进行数据 处理， 并将第一数据 处理结果发送给界面显示模块； 根据预设条件的变 化情况， 使用第二采样频率对反应激光加工质量的电信号进行数据 处理， 并将第二数据 处 理结果发送给界面显示模块； 界面显示模块， 用于在显示界面上显示第 一采样频率和第 二采样频率分别处理 的数据 处理结果。 12.根据权利要求11所述的系统， 其特征在于， 所述控制模块确定的预设条件为： 判断 激光加工头加工速率是否为匀速； 如果非匀速， 采用第一采样频率对反应激光加工质量的 电信号进行 数据处理。 13.根据权利要求11所述的系统， 其特征在于， 所述控制模块确定的预设条件为根据激 光加工头的加工速度v确定采样频率f； 建立采样频率f和加工速度v的一次函数关系， 其中， f＝M*v+N， (M、 N 为常数)。 14.根据权利要求1 1所述的系统， 其特 征在于， 所述控制模块确定的预设条件为： 预设激光加工轨迹 中的等间隔距离的平均激光加工 速度， 等间隔距离对应的信号采样频率 随平均激光加工速度的变化而变化； 根据等间隔距 离、 和该平均激光加工速度确定该间隔距离的采样频率f； 其中， f＝K*V/d， 其中K为常数， d 为等间隔距离， V为 等间隔距离d内的平均激光加工 速度； 所述界面显示模块在显示界面上建立从开始到结束这段激光加工过程 时间内， 基于激 光加工轨迹对应电信号强度值的界面显示， 通过界面显示建立激光加工轨迹和等间隔采样 并处理的电信号幅度值的对应关系。 15.根据权利要求11所述的系统， 其特征在于， 光辐射信号检测模块获取的反应激光加 工质量的电信号指： 加工激光经激光加工面发射回光辐射信号检测模块的激光反射电信 号。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114905141 A 3