(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210402347.3 (22)申请日 2022.04.18 (71)申请人 浙江大学 地址 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘 路866号 (72)发明人 刘东　陈名渝　程邢磊　郭世维　 王狮凌　孙焕宇　 (74)专利代理 机构 杭州天勤知识产权代理有限 公司 33224 专利代理师 彭剑 (51)Int.Cl. G01N 21/88(2006.01) G01N 21/958(2006.01) G01N 21/01(2006.01) B25B 11/00(2006.01) (54)发明名称 一种用于不同尺寸小口径光学元件缺陷检 测的夹持装置 (57)摘要 本发明公开了一种用于不同尺寸小口径光 学元件缺陷检测的夹持装置， 包括中间带有 方形 开口的夹 具架主体， 所述夹具架主体沿着方形开 口的四周边缘设有一个上凹槽、 一个下凹槽、 两 个左凹槽和两个右凹槽； 上凹槽和下凹槽之间设 有可左右滑动的竖滑条， 靠内侧的左凹槽和右凹 槽之间设有可上下滑动的横滑条， 靠外侧的左凹 槽和右凹槽之间设有可上下滑动的上夹板和下 夹板； 所述的竖滑条和横滑条通过滑动形成与光 学元件尺 寸匹配的探测窗口； 所述的上夹板和下 夹板通过滑动与竖滑条、 横滑条配合形成夹持 腔， 用于夹持光学元件， 使光学元件接收六面通 光散射信号。 本发明能够夹持不同尺 寸小口径光 学元件， 同时保证通光范围达到最大， 能有效应 用于实际检测中。 权利要求书1页 说明书3页 附图2页 CN 114813750 A 2022.07.29 CN 114813750 A 1.一种用于不同尺寸小口径光学元件缺陷检测的夹持装置， 其特征在于， 包括中间带 有方形开口的夹具架主体(1)， 所述夹具架主体(1)沿着方形开口的四周边缘设有一个上 凹 槽、 一个下凹槽、 两个左凹槽和两个右凹槽； 上凹槽和下凹槽之间设有可左右滑动的竖滑条(2)， 靠内侧的左凹槽和右凹槽之间设 有可上下滑动的横滑条(3)， 靠外侧的左凹槽和右凹槽之间设有 可上下滑动的上夹板(4)和 下夹板(5)； 所述的竖滑条(2)和 横滑条(3)通过滑动形成与光学元件尺寸匹配的探测窗口； 所述的 上夹板(4)和下夹板(5)通过滑动与竖滑条(2)、 横滑条(3)配合形成夹持腔， 用于夹持光学 元件。 2.根据权利要求1所述的用于不同尺寸小口径光学元件缺陷检测的夹持装置， 其特征 在于， 所述的上凹槽、 下凹槽、 左凹槽和右凹槽中均设有滑块(9)， 所述竖滑条(2)和横滑条 (3)的两端均通过滚花螺钉(10)与对应凹槽中的滑块(9)固定 。 3.根据权利要求2所述的用于不同尺寸小口径光学元件缺陷检测的夹持装置， 其特征 在于， 所述上夹板(4)和下夹板(5)的两端均通过紧定螺钉(6)与对应凹槽中的滑块(9)固 定。 4.根据权利要求3所述的用于不同尺寸小口径光学元件缺陷检测的夹持装置， 所述紧 定螺钉(6)的一端 固定在滑块(9)上， 紧定螺钉(6)的下部套设有减压弹簧(7)； 上夹板(4)、 下夹板(5)的两端 套设在紧定 螺钉(6)上后通过滚花螺母(8)与减压弹簧(7)配合固定 。 5.根据权利要求1所述的用于不同尺寸小口径光学元件缺陷检测的夹持装置， 其特征 在于， 所述夹具架主体(1)在方形开口与上 凹槽之间、 方形开口与靠内侧的右凹槽之间的位 置均设有刻度。 6.根据权利要求1所述的用于不同尺寸小口径光学元件缺陷检测的夹持装置， 其特征 在于， 所述竖滑条(2)为两端凸起、 中间下凹的结构， 所述的横滑条(3)设置在竖滑条(2)上 中间下凹的位置上； 所述横滑条的外表面与竖滑条(2)两端凸起 位置的外表面齐平。 7.根据权利要求1所述的用于不同尺寸小口径光学元件缺陷检测的夹持装置， 其特征 在于， 夹具架主体(1)两边的底座上分别设有两个安装孔。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 114813750 A 2一种用于不同尺寸小口径光学元件缺陷检测的夹持装 置 技术领域 [0001]本发明属于光学检测装置领域， 尤其是涉及一种光学检测装置中用于夹持不同尺 寸的小口径光学 元件的装置 。 背景技术 [0002]光学元件在制备中需要经过多个工艺环节， 这过程中不免会对光学元件造成损伤 留下缺陷， 而这些缺陷往往会影响光学系统的运行。 尤其是在激光系统中应用， 光学元件若 存在缺陷容易对激光产生调制导致成像质量下降或激光损伤阈值下降。 在光学元件应用于 高性能光学系统前对其检测， 能够有效保证光学系统稳定性和使用寿命。 [0003]检测光学元件不仅是对抛光、 研磨等工艺环节在表面或亚表面留下缺陷进行评 估， 还需要对光学元件凝固成型过程中在内部留下 的微小气泡和夹具等缺陷进行评估， 即 体缺陷检测。 [0004]散射法是目前光学元件体缺陷检测技术常用的方法之一， 该方法可以有效的检测 光学元件内部的缺陷。 散射法检测 光学元件体缺陷要求光学元件通光， 以供激光正对入射 在光学元件内部聚焦和探测器接收散射信号。 然而在现有的光学元件检测中， 如公开号为 CN103837096A的专利文 献利用激光干涉仪对光学元件进行形面检测需结合折射率匹配液； 公开号为CN112858172A的专利文 献采用合页结构夹持薄光学元件， 并且在容器框架的底部 和两侧设有进光槽保证足够的检测通光区， 但需要结合匹配液进 行检测且只适用于 薄型光 学元件； 公开号为CN108490598A的专利文献利用多光路照射获得缺陷散射信号， 但以光学 元件放在三 维平移台上的方式进 行检测， 光学元件与三 维平移台接触的一面容易被污染且 检测过程中也 容易滑动影响检测结果。 [0005]因此， 为实现光学 元件固定且 满足体缺陷检测要求， 需要一个适用的夹持装置 。 发明内容 [0006]本发明提供了一种用于不同尺寸小口径光学元件缺陷检测的夹持装置， 其能够夹 持不同尺寸小口径光学 元件， 同时保证通 光范围达 到最大， 能有效应用于实际检测中。 [0007]一种用于不 同尺寸小口径光学元件缺陷检测的夹持装置， 其特征在于， 包括中间 带有方形开口的夹具架主体， 所述夹具架主体沿着方形开口的四周边缘设有一个上凹槽、 一个下凹槽、 两个左凹槽和两个右凹槽； [0008]上凹槽和下凹槽之间设有可左右滑动的竖滑条， 靠内侧的左凹槽和右凹槽之间设 有可上下滑动的横滑条， 靠外侧的左凹槽和右凹槽之间设有可上下滑动的上夹板和下夹 板； [0009]所述的竖滑条和横滑条通过滑动形成与光学元件尺寸 匹配的探测窗口； 所述的上 夹板和下夹 板通过滑动与竖滑条、 横滑条配合形成夹持腔， 用于 夹持光学 元件。 [0010]进一步地， 所述的上凹槽、 下凹槽、 左凹槽和右凹槽中均设有滑块， 所述竖滑条和 横滑条的两端均通过滚花螺钉与对应凹槽中的滑块固定 。说　明　书 1/3 页 3 CN 114813750 A 3