(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210410267.2 (22)申请日 2022.04.19 (71)申请人 杭州通尚光电有限公司 地址 311121 浙江省杭州市余杭区仓前街 道龙潭路20号 4幢2层202室 (72)发明人 李燕　虞建栋　彭振坚　 (74)专利代理 机构 杭州创信知识产权代理有限 公司 33383 专利代理师 杜海东 (51)Int.Cl. G01N 21/59(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)发明名称 用于测量材 料光谱透射比的装置 (57)摘要 本发明公开了一种用于测量材料光谱透射 比的装置， 旨在解决现在采用光谱仪探测器的光 谱对短波或长波响应弱， 信噪比差， 测量精度差 的不足。 该发明包括测量积分球、 光谱测量装置、 主光源和多通道光纤束， 相邻出光部贴合设置， 多通道光纤束包括分束和合 成束， 光谱测量装置 经多通道 光纤束接受来自出光部的光信号， 所述 装置还包括有第一滤光器， 分束远离所述光谱测 量装置的一端为进光端， 至少有一个所述分束的 所述进光端连接所述第一 温滤光器。 通过设置滤 光器和多通道 光纤束， 以较低的成本和简单的实 现方式提高光谱仪探测器对短波(380n m)或长波 (1100nm)的光谱响应 。 权利要求书1页 说明书4页 附图3页 CN 115015183 A 2022.09.06 CN 115015183 A 1.一种用于测量材料光谱透射比的装置， 其特征是， 包括测量积分球、 光谱测量装置、 主光源和多通道光纤束， 所述测量积分球包括进光部和若干出光部， 所述进光部包括第一 进光口和用于定位样品的定位架， 所述第一进光口位于所述主光源的出射光光路上， 所述 定位架位于所述主光源和所述第一进光口之间； 所述相邻出光部贴合设置， 所述多通道光纤束包括连接所述出光部的分束和连接所述 光谱测量装置的合成束， 所述光谱测量装置经所述多通道光纤束接受来自所述出光部的光 信号， 所述装置还包括有第一滤光器， 所述分束远离所述光谱测量装置的一端为进光端， 至 少有一个所述分束的所述进光端连接所述第一滤光器。 2.根据权利要求1所述的一种用于测量材料光谱透射比的装置， 其特征是， 所述装置还 包括有第二滤光器， 至少有一个所述分束的所述进光端连接所述第二滤光器。 3.根据权利要求2所述的一种用于测量材料光谱透射比的装置， 其特征是， 所述第 一滤 光器是升 色温滤光器， 所述第二滤光器是近红外滤光器； 或者， 所述第一滤光器是近红外滤 光器， 所述第二滤光器是升色温滤光器。 4.根据权利要求1所述的一种用于测量材料光谱透射比的装置， 其特征是， 还包括有辅 助光源， 所述辅助光源的出射光直接进入所述测量积分球内部， 所述测 量积分球设有第一 挡光屏， 所述第一挡光屏均位于所述第二辅助光源的出射光光路上， 所述第一挡光屏位于 测量积分球的内部 。 5.根据权利要求1所述的一种用于测量材料光谱透射比的装置， 其特征是， 测量积分球 包括第二挡光屏， 第二挡光屏位于测量积分球的内部， 第二挡光屏限制主光源产生的光线 直射出光部 。 6.根据权利要求4所述的一种用于测量材料光谱透射比的装置， 其特征是， 所述辅助光 源的发光 光谱范围覆盖所述 光谱测量装置的测量波长范围。 7.根据权利要求1所述的一种用于测量材料光谱透射比的装置， 其特征是， 所述主光源 的光束发散角小于等于 3度。 8.根据权利要求1所述的一种用于测量材料光谱透射比的装置， 其特征是， 所述主光源 包括至少一个卤钨灯。 9.根据权利要求1或8所述的一种用于测量材料光谱透射比的装置， 其特征是， 所述主 光源包括至少一个LED灯。 10.根据权利要求2所述的一种用于测量材料光谱透射比的装置， 其特征是， 所述辅助 光源包括至少一个卤钨灯。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 115015183 A 2用于测量材料光谱透 射比的装 置 技术领域 [0001]本发明涉及光学仪器领域， 更具体地说， 它涉及一种用于测量材料光谱透射比的 装置。 背景技术 [0002]目前， 某些材料的光谱透射比测量要求覆盖紫外、 可见和近红外的光谱。 而光谱仪 探测器的光谱响应往往呈现出短波与长波灵敏度低， 中间波段灵敏度高的情况， 其表现如 图1所示。 在图中左侧的380nm波长附近的短波和1100nm波长附近的长波的光谱信号较弱， 信噪比差， 导 致测量精度差， 并最终影响整体的测量精度。 [0003]为了弥补这一不足， 相关技术采用使用至少2台机器， 1台测短波和中短波， 1台测 长波和中长波， 分别调整两台仪器的光谱响应， 最后把两台仪器的测量波段拼接。 这种方式 存在机械结构复杂， 软件调试复杂， 并需要根据所测材料进行适应性调整的问题。 而且， 这 种方式增 加了成本， 也 提高了复杂度。 发明内容 [0004]本发明克服了上述结构的不足， 提供了一种用于测量材料光谱透射比的装置， 它 能以较低的成本和简单的实现方式提高光谱仪探测器对短波(380nm)或长波(1100nm)的光 谱响应。 [0005]为了解决上述 技术问题， 本发明采用以下技 术方案： [0006]一种用于测量材料光谱透射比的装置， 包括测量积分球、 光谱测量装置、 主光源和 多通道光纤束， 所述测量积分球包括进光部和若干出光部， 所述进光部包括第一进光口和 用于定位样品的定位架， 所述第一进光口位于所述主光源的出射光光路上， 所述定位架位 于所述主光源和所述第一进光口之间； [0007]所述相邻出光部贴合设置， 所述多通道光纤束包括连接所述出光部的分束和连接 所述光谱测量装置的合成束， 所述光谱测量装置经所述多通道光纤束接受来自所述出光部 的光信号， 所述装置还包括有第一滤光器， 所述分束远离所述光谱测量装置的一端为进光 端， 至少有一个所述分束的所述进光端连接所述第一滤光器。 [0008]进一步的， 所述装置还包括有第二滤光器， 至少有一所述分束的所述进光端连接 所述第二滤光器。 [0009]进一步的， 所述的第一滤光器是升色温滤光器， 所述第二滤光器是近红外滤光器； 或者， 所述第一滤光器是近红外滤光器， 所述第二滤光器是升色温滤光器。 [0010]本装置在测量积分球开设了若干出光部， 通过在出光部和多通道光纤束的分束之 间增加滤光器的方式， 提高了短波和长波的光信号表现， 提高了信噪比， 提高了精度。 [0011]进一步的， 还包括有辅助光源， 所述辅助光源的出射光直接进入所述测量积分球 内部， 所述测 量积分球设有第一挡光屏， 所述第一挡光屏位于所述第二辅助光源的出射光 光路上， 所述第一挡光屏位于测量积分球的内部。 在测试过程中， 分别测试放置样品或不放说　明　书 1/4 页 3 CN 115015183 A 3