(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210438638.8 (22)申请日 2022.04.25 (71)申请人 京东方科技 集团股份有限公司 地址 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 申请人 成都中电熊猫 显示科技有限公司 (72)发明人 薛超　栾凤　冷朝杰　 (74)专利代理 机构 北京正理专利代理有限公司 11257 专利代理师 张磊 (51)Int.Cl. G01N 21/01(2006.01) G01N 21/89(2006.01) G01B 11/02(2006.01) G01N 27/04(2006.01) G01N 27/20(2006.01) (54)发明名称 一种用于 检测玻璃基 板表面异 物的装置 (57)摘要 本发明公开一种用于检测玻璃基板表面异 物的装置， 包括： 支架， 所述支架沿垂直于玻璃基 板输送方向设置， 且位于玻璃基板的下方； 导轨， 所述导轨设置为多个， 均沿玻璃基板输送方向设 置于所述支架上； 滑动部， 所述滑动部设置为多 个， 所述多个滑动部沿垂直于玻璃基板输送方向 并排设置， 每个所述滑动部均包括档杆和固定连 接于所述档杆两端的滑块， 所述滑 块与所述滑轨 滑动配合连接， 以使所述档杆能够沿玻璃基板输 送方向滑动， 所述档杆的顶面与玻璃基板的表面 之间具有间隙； 以及检测单元， 所述检测单元用 于检测所述档杆的位移。 本发明装置中可滑动的 档杆不但能够清除附着力较小的异物， 还能够检 测到无法被清除掉异 物的玻璃基 板。 权利要求书1页 说明书6页 附图3页 CN 114813562 A 2022.07.29 CN 114813562 A 1.一种用于检测玻璃基板表面异 物的装置， 其特 征在于， 包括： 支架， 所述支 架沿垂直于玻璃基板 输送方向设置， 且位于玻璃基板的下 方； 导轨， 所述 导轨设置为多个， 均沿玻璃基板 输送方向设置 于所述支 架上； 滑动部， 所述滑动部设置为多个， 所述多个滑动部沿垂直于玻璃基板输送方向并排设 置， 每个所述滑动部均包括档杆和固定连接于所述档杆两端的滑块， 所述滑块与所述滑轨 滑动配合连接， 以使所述档杆能够沿玻璃基板输送方向滑动， 所述档杆的顶面与玻璃基板 的表面之间具有间隙； 以及 检测单元， 所述检测单 元用于检测所述档杆的位移。 2.根据权利要求1所述的装置， 其特征在于， 多个所述滑动部的所述档杆的两端靠近设 置， 位于玻璃基板 两侧的所述档杆的两端分别位于玻璃基板的外侧。 3.根据权利要求1所述的装置， 其特征在于， 所述支架设置为矩形框， 多个所述导轨固 定结合于所述矩形框上。 4.根据权利要求3所述的装置， 其特征在于， 用于输送玻璃基板的传输机构包括多排并 列设置的滚轮， 在其中一排滚轮的两侧分别 设置所述导轨， 以使一个滚轮对应于一所述档 杆。 5.根据权利要求1所述的装置， 其特征在于， 所述检测单元包括检测电路、 多个固定结 合于所述导轨表面的电阻片， 以及多个一端与所述滑块连接、 另一端与所述电阻片接触的 滑片， 所述检测电路通过检测所述电阻片与滑片的电阻值变化， 以检测所述档杆的位移。 6.根据权利要求1所述的装置， 其特征在于， 所述检测单元包括检测电路， 以及多个分 别位于所述滑块两侧的光源和受光器， 当所述滑块移动时， 所述受光器能够接 收所述光源 发出的光发生变化， 所述检测电路通过检测所述受光器的光变化信号， 以检测所述档杆 的 位移。 7.根据权利要求1所述的装置， 其特征在于， 所述检测单元还与用于输送玻璃基板的传 输机构的控制单元连接， 当所述检测单元检测到所述档杆移动时， 所述控制单元能够根据 检测单元发送的信号停止传输 机构的运行。 8.根据权利要求1所述的装置， 其特征在于， 所述支架包括多个与用于输送玻璃基板的 传输装置的架体连接的横杆， 以及多个与所述横杆连接的竖杆， 所述横杆沿玻璃基板输送 方向设置， 所述 导轨设置 于所述竖 杆的顶端。 9.根据权利要求1所述的装置， 其特征在于， 所述档杆的顶面与玻璃基板的表面之间的 间隙范围为15 0～300微米。 10.根据权利要求1所述的装置， 其特征在于， 所述档杆由硬质金属材料制成， 所述档杆 的横截面形状设置为矩形。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 114813562 A 2一种用于 检测玻璃基板表面异物的装 置 技术领域 [0001]本发明涉及液晶显示面板模块技术领域。 更具体地， 涉及一种用于检测平板玻璃 基板表面异 物的装置 。 背景技术 [0002]随着电子产品高端发展， 对其初端的TFT ‑LCD玻璃基板整体品质要求更加严格。 用 于平板显示器的玻璃基板， 是一种对表面洁净度要求极高的产品， 对玻璃基板进 行切割、 研 磨清洗， 以及玻璃基板在传输线 上输送时， 会受到不同程度的次生污染， 玻璃基板包括正面 和背面两个表面， 目前的生产过程中仅对玻璃基板的正面， 即工作面进 行颗粒检测， 而玻璃 基板的背面通常不进行颗粒检测， 并且由于玻璃基板的背面与传输线接触， 对玻璃基板正 面进行颗粒检测的装置也 不适用于玻璃基板背面的检测。 发明内容 [0003]本发明的目的在于提供一种用于检测玻璃基板表面异物的装置， 该装置能够对玻 璃基板背面进行颗粒检测。 [0004]根据本发明的一个方面， 提供了一种用于检测玻璃基板表面异 物的装置， 包括： [0005]支架， 所述支 架沿垂直于玻璃基板 输送方向设置， 且位于玻璃基板的下 方； [0006]导轨， 所述 导轨设置为多个， 均沿玻璃基板 输送方向设置 于所述支 架上； [0007]滑动部， 所述滑动部设置为多个， 所述多个滑动部沿垂直于玻璃基板输送方向并 排设置， 每个所述滑动部均包括档杆和固定连接于所述档杆两端的滑块， 所述滑块与所述 滑轨滑动配合连接， 以使所述档杆能够沿玻璃基板输送方向滑动， 所述档杆 的顶面与玻璃 基板的表面之间具有间隙； 以及 [0008]检测单元， 所述检测单 元用于检测所述档杆的位移。 [0009]优选地， 多个所述滑动部 的所述档杆的两端靠近设置， 位于玻璃基板两侧的所述 档杆的两端分别位于玻璃基板的外侧。 [0010]优选地， 所述支 架设置为矩形框， 多个所述 导轨固定结合于所述矩形框上。 [0011]优选地， 用于输送玻璃基板 的传输机构包括多排并列设置 的滚轮， 在其中一排滚 轮的两侧分别设置所述 导轨， 以使一个滚轮对应于一所述档杆。 [0012]优选地， 所述检测单元包括检测电路、 多个固定结合于所述导轨表面的电阻片， 以 及多个一端与所述滑块连接、 另一端与所述电阻片接触的滑片， 所述检测电路通过检测所 述电阻片与滑片的电阻值变化， 以检测所述档杆的位移。 [0013]优选地， 所述检测单元包括检测电路， 以及多个分别位于所述滑块两侧的光源和 受光器， 当所述滑 块移动时， 所述受光器能够接收所述光源发出的光发生变化， 所述检测电 路通过检测所述受光器的光变化信号， 以检测所述档杆的位移。 [0014]优选地， 所述检测单元还与用于输送玻璃基板 的传输机构的控制 单元连接， 当所 述检测单元检测到所述档杆移动时， 所述控制单元能够根据检测单元发送的信号停止传输说　明　书 1/6 页 3 CN 114813562 A 3