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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210044628.6 (22)申请日 2022.01.14 (71)申请人 百芯智能制造科技 (深圳) 有限公司 地址 518128 广东省深圳市宝安区航城街 道后瑞社区后瑞第二工业区12栋B426 (72)发明人 宋俊纬 王红云 (74)专利代理 机构 北京布瑞知识产权代理有限 公司 11505 专利代理师 李浩 (51)Int.Cl. G06F 16/906(2019.01) G06F 40/30(2020.01) (54)发明名称 元器件分类测试数据生成方法及系统、 设 备、 存储介质 (57)摘要 本申请提供了一种元器件分类测试数据生 成方法及系统、 设备、 存储介质, 解决了现有 技术 中无相关的电子元件分类测试数据以作为对识 别出物料清单中元器件类型数据的参考数据的 技术问题。 通过获取电子元件的基础测试数据, 再次获取与基础数据对应的电子元件基础测试 数据; 通过基础测试数据以及预设分类模型, 得 到电子元件的分类测试数据; 该电子元件的分类 测试数据能够作为测试标准数据, 用以对检查的 元器件类型进行校验, 进而判断检查后的物料清 单中的元器件类型是否正确。 当电子元件的分类 测试数据包括检查后的物料清单中元器件类型 数据, 则检查后的物料清单中的元器件类型正 确。 权利要求书2页 说明书7页 附图7页 CN 114840729 A 2022.08.02 CN 114840729 A 1.一种元器件分类测试 数据生成方法, 其特 征在于, 包括: 获取电子元件的基础数据; 根据所述基础数据获取与所述基础数据对应的电子元件的基础测试 数据; 根据所述基础测试 数据以及预设 分类模型, 生成所述电子元件的分类测试 数据。 2.根据权利要求1所述的元器件分类测试数据生成方法, 其特征在于, 根据所述基础数 据获取与所述基础数据对应的电子元件的基础测试 数据包括: 根据所述基础数据及预设电子元件特征规则, 将所述基础数据进行组合, 以得到所述 电子元件的多个属性信息, 所述多个属性信息作为所述电子元件的基础测试 数据; 其中, 所述根据 所述基础测试数据以及预设分类模型, 生成所述电子元件的分类测试数据包 括: 根据所述多个属性信息及所述预设分类模型, 将所述多个属性信息进行组合, 生成所 述电子元件的分类测试 数据。 3.根据权利要求2所述的元器件分类测试数据生成方法, 其特征在于, 预设电子元件特 征规则包括: 语义 规则特征; 其中, 根据所述基础数据及预设电子元件特征规则, 将所述基础数据进行组合, 以得到所述 电子元件的多个属性信息包括: 对所述基础数据依据所述语义规则特征进行语义分析, 将所述基础数据进行组合, 以 得到所述电子元件的多个属性信息 。 4.根据权利要求2所述的元器件分类测试数据生成方法, 其特征在于, 预设电子元件特 征规则包括: 参数 特征, 其中, 根据所述基础数据及预设电子元件特征规则, 将所述基础数据进行组合, 以得到所述 电子元件的多个属性信息包括: 将所述基础数据依据所述参数特征, 将所述基础数据进行组合, 以得到所述电子元件 的多个属性信息; 其中, 所述 参数特征包括: 电子元件的符号特 征或者符合组合特 征。 5.根据权利要求2所述的元器件分类测试数据生成方法, 其特征在于, 预设电子元件特 征规则包括: 关键词特 征, 其中, 根据所述基础数据及预设电子元件特征规则, 将所述基础数据进行组合, 以得到所述 电子元件的多个属性信息包括: 将所述基础数据依据所述关键词特征, 将所述基础数据进行组合, 以得到所述电子元 件的多个属性信息; 其中, 所述关键词特 征包括: 电子元件的单词特 征或者字符特 征。 6.根据权利要求5所述的元器件分类测试数据生成方法, 其特征在于, 在获取电子元件 的基础数据之前, 还 包括: 将自然数据根据预设同一类型 数据规则, 生成所述电子元件的基础数据。 7.根据权利要求1所述的元器件分类测试数据生成方法, 其特征在于, 根据所述基础测 试数据分类模型数据以及预设分类模型, 生成所述电子元件相关的分类测试数据之后, 还 包括: 记录以及保存所述电子元件相关的分类测试 数据。 8.一种元器件分类测试 数据生成系统, 其特 征在于, 包括: 数据获取模块, 用于获取电子元件的基础数据;权 利 要 求 书 1/2 页 2 CN 114840729 A 2模型数据生成模块, 用于根据 所述基础数据获取与所述基础数据对应的电子元件的基 础测试数据; 分类数据生成模块, 用于根据所述基础测试数据以及预设分类模型, 生成所述电子元 件的分类测试 数据。 9.一种电子设备, 其特 征在于, 所述电子设备包括: 处理器; 以及 用于存储所述处 理器可执行信息的存 储器; 其中, 所述处理器用于执行上述权利要求1 ‑7任一项所述的元器件分类测试数据生成 方法。 10.一种计算机可读存储介质, 其特征在于, 所述存储介质存储有计算机程序, 所述计 算机程序用于执 行上述权利要求1 ‑7任一项所述的元器件分类测试 数据生成方法。权 利 要 求 书 2/2 页 3 CN 114840729 A 3
专利 元器件分类测试数据生成方法及系统、设备、存储介质
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