(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210708927.5 (22)申请日 2022.06.21 (71)申请人 奥蒂玛光学科技 （深圳） 有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙岗区龙城街 道黄阁坑社区黄阁北路449号龙岗天 安数码创新园三 号厂房B901 (72)发明人 陈龙　曹沿松　 (74)专利代理 机构 深圳市威世博知识产权代理 事务所(普通 合伙) 44280 专利代理师 田茂虎 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06V 10/74(2022.01) G06V 10/764(2022.01) G06V 10/75(2022.01)G06N 3/04(2006.01) G06N 3/08(2006.01) (54)发明名称 印制电路板生产参数获取方法、 光学检测设 备、 电子设备及存 储介质 (57)摘要 本申请公开了一种印制电路板生产参数获 取方法、 光学检测设备、 电子设备及存储介质。 该 印制电路板生产参数获取方法应用于光学检测 设备， 该方法包括： 自动获取印制电路板的当前 生产参数， 以及印制电路板的检测图像中的缺陷 信息； 基于缺陷信息， 生成得分值； 得分值用于表 征印制电路板的生产质量、 生产状况以及应用该 当前生产参数是否适合用于生产； 基于得分值调 整光学检测设备的当前生产参数， 以得到调整生 产参数， 并利用调整生产参数制造印制电路板。 通过上述方式， 通过得分值来调整光学检测设备 制造印制电路板的生产参数， 从而能够提高印制 电路板的生产质量和优化印制电路板的生产流 程， 减少人力资源的消耗， 并预防参数错误造成 的生产事故。 权利要求书2页 说明书14页 附图4页 CN 115272180 A 2022.11.01 CN 115272180 A 1.一种印制电路板生产参数获取方法， 应用于光学检测设备， 其特征在于， 所述方法包 括： 获取印制电路板的当前生产参数， 以及所述印制电路板的检测图像中的缺陷信息； 基于所述 缺陷信息， 生成得分值； 所述得分值用于表征 所述印制电路板的生产质量； 基于所述得分值对所述当前生产参数进行调整， 得到调整生产参数； 所述调整生产参 数用于制造所述印制电路板 。 2.根据权利要求1所述的印制电路板生产参数获取方法， 其特征在于， 所述基于所述得 分值对所述当前生产参数进行调整， 得到调整生产参数， 包括： 基于所述得分值所在的得分段和所述 印制电路板的类型， 对所述当前生产参数进行调 整， 得到所述调整参数。 3.根据权利要求2所述的印制电路板生产参数获取方法， 其特征在于， 所述基于所述得 分值所在的得分段和所述印制电路板的类型， 对所述当前生产参数进行调整， 得到所述调 整参数， 包括： 基于所述印制电路板的类型和用户的设置参数， 确定所述印制电路板的当前生产参 数； 其中， 所述当前生产参数包括所述印制电路板的生产区域、 生产类型、 生产 精度、 关键缺 陷类型、 最大缺陷数目和生产数量中的至少一种； 所述当前生产参数基于所述光学检测设 备的误差和所述用户的操作影响， 在预设差异范围内动态变化， 以形成实际使用的生产参 数； 基于所述得分值所在的得分段， 调整所述实际使用的生产参数。 4.根据权利要求1所述的印制电路板生产参数获取方法， 其特征在于， 所述基于所述缺 陷信息， 生成得分值， 包括： 基于所述缺陷信息， 确定对应至少一缺陷区域中缺陷的预测类型、 预测权重和预测数 量； 基于所述预测类型， 确定所述至少一 缺陷区域的预测缺陷分； 基于所述预测权 重和所述预测数量， 计算所述预测缺陷分对应的缺陷总得分； 响应于所述 缺陷总得分大于预设阈值， 计算所述至少一 缺陷区域对应的惩罚总得分； 基于所述 缺陷总得分和所述 惩罚总得分的差值， 生成所述得分值。 5.根据权利要求4所述的印制电路板生产参数获取方法， 其特征在于， 所述计算所述至 少一缺陷区域对应的惩罚总得分， 包括： 获取所述至少一 缺陷区域中单个缺陷的惩罚得分； 基于所述至少一缺陷区域中缺陷的预测数量， 以及所述惩罚得分， 确定所述至少一缺 陷区域对应的惩罚总得分。 6.根据权利要求1所述的印制电路板生产参数获取方法， 其特征在于， 所述基于所述缺 陷信息， 生成得分值， 包括： 基于所述 缺陷信息， 提取 所述检测图像中缺陷的特 征向量； 将提取的所述特征向量， 输入一打分模型中进行得分计算， 以输出所述印制电路板应 用于所述当前生产参数 的得分值； 其中， 所述打分模型基于用户设置的得分参数和若干个 训练向量训练得到 。 7.根据权利要求6所述的印制电路板生产参数获取方法， 其特征在于， 所述基于所述得权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115272180 A 2分值对所述当前生产参数进行调整， 得到调整生产参数， 包括： 将所述得分值输入一强化学习网络中进行所述当前生产参数的预测调整， 以生成调整 策略； 其中， 所述调整策略用于提高利用 调整之后的所述当前生产参数制 造的所述印制电 路板对应的得分值； 所述 强化学习网络基于用户设置的调整参数和若干个训练得分值训练 得到； 基于所述调整策略对所述当前生产参数进行调整， 得到所述调整生产参数， 并应用所 述调整生产参数作为实际的应用生产参数。 8.一种光学检测设备， 其特 征在于， 所述 光学检测设备包括： 信息获取模块， 用于获取印制电路板的当前生产参数， 以及所述印制电路板的检测图 像中的缺陷信息； 打分模块， 用于基于所述缺陷信息， 生成得分值； 所述得分值用于表征所述印制电路板 的生产质量； 参数调整模块， 基于所述得分值调 整所述当前生产参数， 得到调整生产参数； 所述调整 生产参数用于制造所述印制电路板 。 9.一种电子设备， 其特征在于， 所述电子设备包括处理器以及与所述处理器连接的存 储器， 其中， 所述存储器中存储有程序数据， 所述处理器调取所述存储器存储的所述程序数 据， 以执行如权利要求1 ‑7任意一项所述的印制电路板生产参数获取 方法。 10.一种计算机可读存储介质， 内部存储有程序指令， 其特征在于， 所述程序指令被执 行以实现如以执 行如权利要求1 ‑7任意一项所述的印制电路板生产参数获取 方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115272180 A 3