(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210716472.1 (22)申请日 2022.06.21 (71)申请人 奥蒂玛光学科技 （深圳） 有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙岗区龙城街 道黄阁坑社区黄阁北路449号龙岗天 安数码创新园三 号厂房B901 (72)发明人 陈龙　曹沿松　 (74)专利代理 机构 深圳市威世博知识产权代理 事务所(普通 合伙) 44280 专利代理师 田茂虎 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06V 10/74(2022.01) G06N 3/04(2006.01) G06V 10/774(2022.01)G06V 10/26(2022.01) G06V 10/764(2022.01) (54)发明名称 缺陷检测方法、 光学检测设备、 电子设备以 及存储介质 (57)摘要 本申请公开了一种缺陷检测方法、 光学检测 设备、 电子设备以及计算机可读存储介质， 该缺 陷检测方法应用于光学检测设备， 该方法包括： 获取电路板图像， 以及电路板图像中第一类缺陷 的信息； 提取第一类缺陷中各缺陷之间的缺陷关 系信息； 利用缺陷关系信息中符合预设缺陷关系 条件的若干第一类缺陷， 生成第二类缺陷， 第二 类缺陷数量小于若干第一类缺陷。 上述方法， 利 用获取的电路板图像提取电路板中的缺陷信息， 以及根据缺陷信息提取缺陷之间的关系信息， 能 够优化电路板图像中的部分缺陷， 进而加快电路 板的检测流 程和减少人力资源的消耗。 权利要求书2页 说明书12页 附图3页 CN 115239628 A 2022.10.25 CN 115239628 A 1.一种缺陷检测方法， 应用于光学检测设备， 其特 征在于， 所述方法包括： 获取电路板图像， 以及所述电路板图像中第一类缺陷的信息； 提取所述第一类缺陷 中各缺陷之间的缺陷关系信息； 利用所述缺陷关系信息中符合预设缺陷关系条件的若干第一类缺陷， 生成第二类缺 陷， 所述第二类缺陷数量小于所述若干第一类缺陷。 2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述缺陷关系信息包括间距信 息； 所述提取所述第一类缺陷 中各缺陷之间的缺陷关系信息， 包括： 基于所述第一类缺陷的信息， 提取 所述第一类缺陷 中各缺陷的中心点 位置； 按照所述第一类缺陷的中心点 位置， 计算若干所述第一类缺陷之间的间距信息 。 3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述缺陷关系信 息包括相似度信 息； 所述提取所述第一类缺陷 中各缺陷之间的缺陷关系信息， 包括： 基于所述第一类缺陷的信息， 提取 所述第一类缺陷 中各缺陷的形状特 征； 按照所述第一类缺陷的形状特 征， 计算若干所述第一类缺陷之间的相似度信息 。 4.根据权利要求2或3所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述利用所述缺陷关系信息 中符合预设缺陷关系条件的若干第一类缺陷， 生成第二类缺陷， 包括： 基于所述缺陷关系信息， 融合至少部分符合所述预设缺陷关系条件的第一类缺陷， 以 生成所述第二类缺陷。 5.根据权利要求2或3所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述利用所述缺陷关系信息 中符合预设缺陷关系条件的若干第一类缺陷， 生成第二类缺陷， 包括： 基于所述第一类缺陷的信息， 确定所述第一类缺陷的置信值； 基于所述缺陷关系信 息， 在所有第 一类缺陷中选择符合第 一条件的至少部分第 一类缺 陷； 按照所述至少部分第 一类缺陷的置信度， 选择置信度符合第 二条件的第 一类缺陷确定 为所述第二类缺陷。 6.根据权利要求4所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述基于所述缺陷关系信息， 融 合至少部分符合所述预设缺陷关系条件的第一类缺陷， 以生成所述第二类缺陷， 包括： 基于所述 缺陷关系信息， 确定小于预设间距值的至少一对缺陷； 基于所述至少一对缺陷中各缺陷的形状特征， 融合所述至少一对缺陷， 以生成所述第 二类缺陷。 7.根据权利要求5所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述按照所述至少部分第 一类缺 陷的置信度， 选择置信度符合第二条件的第一类缺陷确定为所述第二类缺陷， 包括： 获取至少部分第一类缺陷的置信度； 将所述置信度最高的第一类缺陷确定为所述第二类缺陷； 或者， 将所述置信度高于预设置信度阈值的第一类缺陷确定为所述第二类缺陷。 8.一种光学检测设备， 其特 征在于， 所述 光学检测设备包括： 图像获取模块， 用于获取电路板图像； 信息提取模块， 用于提取所述电路板 图像中第一类缺陷的信息， 以及所述第一类缺陷权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115239628 A 2中各缺陷之间的缺陷关系信息； 缺陷检测模块， 利用所述缺陷关系信息中符合预设缺陷关系条件的若干第一类缺陷， 生成第二类缺陷， 所述第二类缺陷数量小于所述若干第一类缺陷。 9.一种电子设备， 其特征在于， 所述电子设备包括处理器以及与所述处理器连接的存 储器， 其中， 所述存储器中存储有程序数据， 所述处理器调取所述存储器存储的所述程序数 据， 以执行如权利要求1 ‑7任意一项所述的缺陷检测方法。 10.一种计算机可读存储介质， 内部存储有程序指令， 其特征在于， 所述程序指令被执 行以实现如以执 行如权利要求1 ‑7任意一项所述的缺陷检测方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115239628 A 3