(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202210984441.4 (22)申请日 2022.08.17 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 115063618 A (43)申请公布日 2022.09.16 (73)专利权人 成都数之联科技股份有限公司 地址 610000 四川省成 都市武侯区锦绣 街8 号2层270号 (72)发明人 不公告发明人 　 (51)Int.Cl. G06V 10/75(2022.01) G06V 10/74(2022.01) G06V 10/22(2022.01) (56)对比文件 CN 114266773 A,202 2.04.01 CN 114037700 A,2022.02.11 CN 111353983 A,2020.0 6.30 CN 112147147 A,2020.12.2 9 CN 114862817 A,202 2.08.05CN 109615 611 A,2019.04.12 US 2022101577 A1,202 2.03.31 CN 10972498 8 A,2019.0 5.07 方育柯等.面向泛半导体行业的制程优化关 键技术及应用. 《信息科技-无线电 电子学》 .2021,第1- 5页. 方育柯等.基 于选择性集成的最大化软间 隔 算法. 《软件学报》 .2012,第23卷(第5期),第 1132-1147页. 林选伟.基 于视觉注意机制的钢板表面 缺陷 区域检测. 《中国优秀硕士学位 论文全文数据库 信息科技 辑》 .2014,(第4期),第I140 -595页. 孙鸽等.基 于机器视觉的螺纹钢表面 缺陷检 测方法. 《计算机系统应用》 .2020,第2 9卷(第4 期),第32-40页. (续) 审查员 周琼 (54)发明名称 一种基于模板匹配的缺陷定位方法、 系统、 设备及介质 (57)摘要 本发明提供一种基于模板匹配的缺陷定位 方法、 系统、 设备及介质， 涉及缺陷定位技术领 域， 所述方法首先基于面板图片获取目标框 Bbox； 然后基于面板图片获取匹配模板T； 然后对 匹配模板T上的线路进行掩膜处理， 得到掩膜模 板m； 然后基于面板图片获取若干候选框I， 基于 匹配模板T对候选框I进行相似度匹配； 最后基于 掩膜模板m获取候选框I上线路与目标框Bbox的 相交位置。 本发 明基于目标检测将面板图片上存 在的缺陷检测出来并获取目标框Bbox， 并且基于 图像处理技术进行模板匹配， 识别到面板图片中 的各种线路区域， 然后计算目标框Bbox与各种线 路区域的交集即可判断缺陷落在哪种线路背景上， 便于后续进行缺陷等级判定 。 [转续页] 权利要求书3页 说明书11页 附图5页 CN 115063618 B 2022.11.11 CN 115063618 B (56)对比文件 XinCheng Zhang等.Zip per classificati on and defect detecti on based on computer visi on. 《2020 39 th Chinese Control Conference (C CC)》 .2020,第6 521- 6526页. 明月清风[email protected] n——缺陷检测常用方法总结 （模板匹配 （定位） +差分）. 《ht tps:// blog.csdn.net/q q_44386034/article/ details/125637835》 .2021,第1页. 梅梦丽.基 于背景连通 域的印刷线路板缺陷 定位及识别. 《中国优秀硕士学位 论文全文数据 库信息科技 辑》 .2016,(第3期),第I13 5-940页.2/2 页 2[接上页] CN 115063618 B1.一种基于模板匹配的缺陷定位方法， 其特 征在于， 所述方法包括以下步骤： 基于面板图片获取目标框Bbox， 所述目标框Bbox 包含缺陷的位置坐标信息； 基于面板图片获取匹配模板T， 所述匹配模板T包 含线路的周期性元 素信息； 对匹配模板T上的线路进行掩膜处 理， 得到掩膜模板m； 基于面板图片获取若干候选框I， 并且基于匹配模板T对候选框I进行相似度匹配， 筛选 出部分候选 框I； 基于掩膜模板m获取筛选后的候选框I上的线路， 获取该线路与目标框Bbox的相交位 置， 所述相交位置即为 缺陷的背景位置； 获取匹配模板T的流 程如下： 对面板图片进行图像 轮廓识别处 理、 图像截取处 理， 得到初始模板； 对初始模板进行二 值化处理、 边缘轮廓提取处 理， 得到匹配模板T； 获取掩膜模板m的流 程如下： 对匹配模板T中不同的线路分别进行多边形 标注， 得到若干不同的多边形 标注区域； 设置一个与匹配模板T尺寸相同的黑色背景图M0， 并且在黑色背景图M0上对应不同的多 边形标注区域 填充不同的像素值P1、 P2至Pn， 得到掩膜模板m； 获取若干候选 框I的流程如下： 对面板图片进行边 缘轮廓提取处 理， 并且获取面板图片的左下角像素点； 将面板图片的左下角像素点作为左下角点坐标， 以左下角点坐标为参照 点获取一个与 匹配模板T尺寸相同的候选 框I， 其中， 匹配模板T的宽度为 w， 高度为h； 将候选框I依次向右/向上平 移一个像素， 获取若干候选 框I； 对候选框I进行相似度匹配的流 程如下： 依次计算若干候选框I与匹配模板T的相似度R （x,y） ， 所述候选框I的坐标表示为： I= [x,y,x+w,y+h]； 其中， （x,y） 为 候选框I的左下角点 坐标， （x+w,y+h） 为 候选框I的右上角点 坐标； 如果相似度R （x,y） 大于匹配度阈值t， 则对应的候选框I与匹配模板T匹配， 其中， 匹配 度阈值t为预设值； 获取线路与目标框Bbox的相交位置的流 程如下： 设置一个与面板图片尺寸相同的黑色背景图M1， 在黑色背景图M1上使用掩膜模板m替代 匹配的候选 框I； 设置一个与面板图片尺寸相同的黑色背景图M2， 在黑色背景图M2对应目标框Bbox的区 域填充像素值P， 其中  ， 像素值P依次与不同线路的像素值P1、 P2至Pn相同； 将黑色背景图M1的像素值除以多边形 标注区域的像素值； 将黑色背景图M2的像素值除以多边形 标注区域的像素值； 将经过像素处理之后的黑色背景图M1和黑色背景图M2进行像素值叠加， 得到图片M3； 选 取图片M3中像素值 为2的位置为线路与目标框Bbox的相交位置 。 2.根据权利要求1所述的一种基于模板匹配的缺陷定位方法， 其特征在于， 所述目标框 Bbox的坐标表示 为： Bbox=[x1,y1,x2,y2]； 其中， （x1,y1） 为目标框Bbox的左下角点 坐标， (x2,y2)为目标框Bbox的右上角点 坐标。 3.一种基于模板匹配的缺陷定位系统， 其特 征在于， 所述系统包括：权　利　要　求　书 1/3 页 2 CN 115063618 B 3